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JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實(shí)現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精煉的外觀設(shè)計(jì)呈現(xiàn)。該設(shè)備做成了操作流程菜單，按照該菜單，操作人員即使不直接操作設(shè)備也能采集到數(shù)據(jù)。

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡 JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。

JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II 場發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡 CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質(zhì)等對電子束敏感的樣品，可進(jìn)行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實(shí)驗(yàn)。

JEM-Z200MF無磁場透射電子顯微鏡 JEM-Z200MF是一款無磁場物鏡的電子顯微鏡，可以在不向樣品施加強(qiáng)磁場的情況下實(shí)現(xiàn)高分辨率觀察。結(jié)合高次像差校正器，可以實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率成像。

XD-1000光譜分析儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，可測量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件 的膜厚，可選配自動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn) XYZ 軸編程位移，實(shí)現(xiàn)無人值守多點(diǎn)測量，測量軟件置入* 的 EFP 算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。

XAU熒光光譜分析儀XAU 是一款一機(jī)多用型光譜儀，應(yīng)用了*的 EFP 算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用 測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。 被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

愛丁堡RM5拉曼顯微鏡RM5是一款緊湊的全自動(dòng)拉曼顯微鏡，用于分析和研究目的。RM5真正的共焦設(shè)計(jì)在市場上并提供了光譜分辨率，空間分辨率和靈敏度。

愛丁堡RMS1000拉曼顯微鏡真正的共聚焦–多位置針孔，可實(shí)現(xiàn)高空間分辨率，熒光和背景抑制以及應(yīng)用優(yōu)化 五位置光柵轉(zhuǎn)塔–小于0.1 cm-1的光譜分辨率和5 cm-1 – 30,000 cm-1的覆蓋范圍 兩種光譜儀選件–標(biāo)準(zhǔn)緊湊型和長焦距光譜儀可提供最終分辨率，靈敏度和雜散光抑制